Автоматизация и мехатроника
Автомобили и автомобильное хозяйство
Аддитивные технологии
Акватроника
Аэродинамика
Аэрокосмическая техника
Биология
Биотехнологии
Вычислительная и микропроцессорная техника
Гидромеханика
Коммуникации
Конструкции. Архитектура
Лесное хозяйство
Материаловедение
Медицина
Механика и материалы
Науки о Земле
Научное и лабораторное исследовательское оборудование
Нефтегазовая промышленность
Окружающая среда
Пищевая химия
Пищевые и водные технологии
Прикладная оптика и фотоника
Радиотехника, телекоммуникации и сети ЭВМ
Робототехника
Сельское хозяйство
Строительство
Термодинамика и термотехника
Технология машиностроения и обработка материалов
Транспорт
Управление процессом
Физика
Химические технологии
Химия
Экология
Электроника
Электроэнергетика
Энергетика
Энергия
Дифракционные измерения для определения интенсивности рефлексов Дебая-Шерера с использованием кубического порошкообразного образца
Принцип:
Поликристаллический, кубический гранецентрированный кристаллизующийся образец порошка облучают излучением трубки Рентгена с медным анодом. Счетчик Гейгера-Мюллера автоматически поворачивается, чтобы обнаружить излучение, которое конструктивно отражается от различных плоскостей решетки кристаллитов. Диаграмма Брэгга автоматически записывается. Интенсивности отдельных рефлекторных линий определяются и сравниваются с теоретически ожидаемыми. Кроме того, оценка позволяет присвоить рефлексы Брэгга на отдельные плоскости решетки, и определить оба расстояния между ними и соответствующий тип решетки Браве.
Задачи:
-
Записать интенсивность Cu рентгеновского излучения, обратно рассеянного кубическим кристаллизующимся образцом медного порошка в зависимости от угла рассеяния.
-
Вычислить плоскости решетки расстояниями от угловых положений отдельных линий Брэгга.
-
Присвоить рефлексы Брэгга с соответствующими плоскостями решетки. Вычислить постоянную решетки вещества и тип решетки Браве.
-
Определить интенсивность отдельных линий рефлекторных и сравнить их с теоретически ожидаемыми интенсивностями.
-
Определить число атомов в элементарной ячейке.
Основные термины:
-
кристаллические решетки
-
сингонии
-
решетки Браве
-
взаимные решетки
-
индексы Миллера
-
структурный фактор
-
атомный фактор рассеяния
-
фактор Лоренца
-
фактор кратности
-
фактор Дебая-Уоллера
-
коэффициент поглощения
-
брэгговское рассеяние
-
характеристические рентгеновские лучи
-
монохроматизация рентгеновских лучей
